美國TSI公司于會上針對大氣顆粒物的測量，展示了以下多種氣溶膠檢測技術(shù)和設(shè)備。

TSI最新推出的SMPS™ 掃描電遷移粒徑譜儀，被廣泛用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量標(biāo)準(zhǔn)。選配3777型納米增強(qiáng)儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀（1nm-DMA）組件后，SMPS粒徑譜儀能夠測量納米的粒徑范圍擴(kuò)展至1nm。

3321 空氣動力學(xué)粒徑譜儀(APS™) 提供 0.5 至 20 微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實(shí)時空氣動力學(xué)檢測。這些獨(dú)特的粒徑分析儀還檢測 0.37 至 20 微米粒徑范圍粒子的光散射強(qiáng)度。APS 粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對數(shù)據(jù)向有興趣研究氣溶膠組成的人士開辟了令人振奮的新途徑。

TSI 3330型光學(xué)顆粒物粒徑譜儀簡單輕便，能夠?qū)︻w粒物濃度和粒徑譜分布進(jìn)行快速和準(zhǔn)確的測量?；赥SI公司40年氣溶膠儀器設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，本款產(chǎn)品使用120度光散射角收集散射光強(qiáng)度和精密的電子處理系統(tǒng)，從而得到高質(zhì)量和高精度的數(shù)據(jù)。同時，TSI工廠嚴(yán)格的標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)也確保儀器的精確性。該產(chǎn)品是廣大環(huán)境研究機(jī)構(gòu)和環(huán)境監(jiān)測部門進(jìn)行顆粒物監(jiān)測分析和源解析的最佳儀器。

敬請大家屆時光臨美國TSI公司位于四美五洲國際酒店四樓的A12展位！  

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